用於機床中工件量測的量測探頭

量測探針透過觸覺測量來偵測工件的尺寸（長度、寬度、高度）、 形狀參數（直度、平整度、圓度、圓柱度）以及位置參數（平行度、垂直度、傾斜角、對稱性）。 接觸式測量是透過以預設力道，讓紅寶石球體接觸工件來進行。 在量測探頭內部，當探針發生偏轉時，會產生無磨損的光電訊號：一根精密針會移動至光電阻斷器中，從而產生用於記錄測量值的開關訊號。

在量測探頭領域，BLUM 提供兩種型號：多方向量測探頭與雙向量測探頭。

配備多方向光電測量機構的量測探頭，與許多其他量測探頭相比，在不同方向進行觸測時，測量結果不會產生差異。當量測模組接觸工件時，內部的一組微型光電感測器會被遮蔽。 這種非接觸式觸發原理無磨損，且能實現比同類探頭顯著更高的測量速度。BLUM 在其測量探頭的研發上，始終貫徹「均勻且不受方向影響的觸測特性」這一策略。

配備雙向測量機構的測量探針，其特點在於可透過適當調整主軸方向，使探針沿 Z 方向或結構上定義的 X/Y 方向產生偏轉。 透過避免在接觸工件上的冷卻液薄膜時產生過早的切換訊號，此雙向測量機構與其他量測探頭相比， 可實現高達 5 m/min 的測量速度、最高 5 g 的加速度，以及低於 1 µm 的重複定位精度。

BLUM 量測探頭主要應用於精密零件加工過程中，對工件進行近製程量測。 這些快速且可靠的量測探頭，能直接在機床內對原裝夾持狀態下的工件進行精確量測，為一般機械製造、模具製造、批量生產、 車削、磨削及銑削中心中的工件與刀具測量，以及特殊測量任務，開闢了嶄新的可能性。所謂「近製程測量」，意指工件無需為進行觸覺探頭測量而卸下夾具，必要時仍可進行後續加工。